S2 PUMA: Alto rendimiento XRF para análisis elemental y mapeo de precisión.

El S2 PUMA combina un alto rendimiento analítico con una operación intuitiva y flexible, ofreciendo análisis elemental preciso, manejo eficiente de muestras y capacidades avanzadas de mapeo para aplicaciones industriales, recubrimientos y control de calidad en laboratorio.

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Descripción

El S2 PUMA con carga manual de una sola posición ofrece las mismas ventajas técnicas que el S2 PUMA XY Autochanger y el S2 PUMA Carousel.
Proporciona un mecanismo sencillo para la manipulación de muestras de bajo volumen y puede equiparse con los detectores rápidos HighSense™ y el panel de control táctil ergonómico TouchControl™.
Sin la pantalla táctil, puede controlarse de forma remota o mediante un ordenador externo con el software de control de instrumentos SPECTRA.ELEMENTS.

Alto rendimiento para lotes de muestras pequeños.

  • Tubo de rayos X de alta potencia de 50 vatios y cambiador automático de filtros de 10 posiciones para una excitación óptima de la muestra.
  • Detectores HighSense: Detectores de deriva de silicio (SDD) de última generación de Bruker con tasas de conteo súper altas y excelente resolución energética para tiempos de medición cortos.
  • Manejo de muestras cómodo y seguro

Funcionamiento sencillo y tiempo de formación mínimo

  • El software intuitivo TouchControl permite que cualquier persona utilice el sistema tras una breve introducción (disponible en 9 idiomas).
  • La pantalla táctil integrada, compatible con guantes, permite el funcionamiento habitual sin necesidad de un ordenador externo.

El S2 PUMA con plataforma de mapeo facilita el monitoreo de calidad en múltiples puntos. Permite cuantificar la composición elemental de la muestra o incluso el espesor de un recubrimiento con alta precisión y resolución espacial (hasta 1 mm). El accionamiento lineal posiciona la muestra de forma precisa y reproducible. La posición real se puede registrar con una cámara HD integrada.

La fase de mapeo amplía el rango de aplicación del S2 PUMA a semiconductores y recubrimientos, donde se requiere resolución espacial.

Se encuentran disponibles insertos para diversos tamaños de muestra, con diámetros que van desde los 40 mm hasta los 152 mm. Se pueden solicitar insertos personalizados.

Beneficios clave

  • Medir la homogeneidad del material y/o el espesor del recubrimiento.
  • Muestras pequeñas y grandes, de hasta 152 mm de diámetro.
  • Máscaras colimadoras para tamaños de punto de 1 a 34 mm.
  • Etapa lineal de alta precisión para un posicionamiento exacto.
  • Cámara HD integrada para la captura automatizada de imágenes.