Descripción
El X4 POSEIDON funciona mediante microtomografía computarizada de rayos X, capturando imágenes tridimensionales no destructivas con resolución de hasta 2 µm. Su sistema combina fuentes de rayos X de reflexión y transmisión con doble detector (Flat Panel y sCMOS), lo que permite ajustar cada escaneo según la velocidad, la resolución o el tipo de muestra. La tecnología GEM Plus™ optimiza la geometría de escaneo, mientras que el software 3DxSUITE gestiona algoritmos avanzados de reconstrucción y recuperación de fase, garantizando resultados precisos y de alta calidad.
Características principales:
- Resolución garantizada: hasta 2 µm, validada con estándares industriales.
- Multi-Vision: doble detector para máxima velocidad o máxima resolución.
- Fuentes de rayos X: hasta 110 kV, con spots de 2 µm para muestras densas.
- Escaneos ultrarrápidos: gracias a GEM Plus™, optimizando tiempo y campo de visión.
- Cambiador de muestras: 15 posiciones, con carga en caliente durante la operación.
- 4D-CT: experimentos dinámicos con plataformas de compresión, tracción y control térmico.
- Software 3DxSUITE: interfaz intuitiva, multilenguaje, con algoritmos avanzados.
- Diseño compacto y accesible: requiere solo un enchufe estándar y mesa de laboratorio.
- Dimensiones: 1250 × 604 × 690 mm, peso 350 kg.
Aplicaciones destacadas:
- Investigación y desarrollo de materiales.
- Control de calidad en procesos industriales.
- Análisis de fallos en componentes electrónicos y ópticos.
- Estudios biomédicos y de ciencias de la vida con imágenes 3D no destructivas.
El sistema se adapta a sus necesidades analíticas, resuelve características tan pequeñas de hasta 2 µm con un contraste increíblemente nítido y trabaja de forma rápida y fluida gracias a sencillos flujos de trabajo y una interfaz de usuario intuitiva.
